FilmSense多波段橢偏儀可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析,適用於薄膜材料的快速測量表征。

Raditech致力於光學檢測設備，在光學量測設備領域專業度高、能提供整合性解決方案。推出第一台國人自製的「全光譜橢圓偏光量測儀」及「全光譜反射式膜厚量測儀」，能協助產業界邁向更精密化、更微細化，技術與國際大廠並駕齊驅，產品精確度高、價格具競爭力，穩健邁向國內自製最高質量之精密光學量測設備製造商。