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UltraFilm薄膜測量係統

        

        

        UltraFilm薄膜測量係統
        

        係統可以為各種材質薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創新的融合光譜反射技術、近紅外幹涉技術以及高亮度光源驅動的光譜橢偏儀技術的多傳感器融合測量技術，是國內可以實現同質膜厚全自動檢測的係統。
        

        

        更新時間：2024-03-19
        

        型號：
        

        廠商性質：代理商
        

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