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QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀

        

        

        QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀
        

        QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學相幹斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控製平台相結合，可以在高達 66 kHz 的單次測量中捕獲透明薄膜樣品中每層的平麵。QuickOCT-4D™ 穿透深度（高達 100μm）和軸向分辨率 （5nm） 針對半導體、生命科學和製藥行業的多層透明薄膜、平麵基板和功能層的測量進行了優化。
        

        

        更新時間：2024-03-19
        

        型號：
        

        廠商性質：代理商
        

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