專為測量旋轉對稱樣品的表麵形貌和透明薄膜的厚度而設計，如金剛石車削光學表麵和模塑或拋光的非球麵透鏡

適用於光學、工業和半導體市場的高速、中精度、經濟實惠的表麵輪廓儀，納米分辨率彩色共聚焦傳感器（可配製點和線傳感器），為在線過程測量和控製而設計，結構緊湊，易於上下片和操作，可配製成獨立係統（X/Y/Z） 和附加升級至LAS （C/R/Z），多種樣品處理能力

QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學相幹斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控製平台相結合，可以在高達 66 kHz 的單次測量中捕獲透明薄膜樣品中每層的平麵。QuickOCT-4D™ 穿透深度（高達 100μm）和軸向分辨率 （5nm） 針對半導體、生命科學和製藥行業的多層透明薄膜、平麵基板和功能層的測量進行了優化。

三維形貌儀通過集成一對單點，非接觸式，納米分辨率的彩色共聚焦傳感器與高速，納米編碼的X/Y/Z協調運動，QuickPRO-CUBE™捕獲同步的前，後和基準表麵3D點雲地形，用於托盤中的單鏡頭或微鏡頭的幾何表征。